半導(dǎo)體高低溫沖擊試驗(yàn)箱適用于電子電器零組件、通訊組件、自動(dòng)化零部件、汽車配件、化學(xué)材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，

兩箱式特點(diǎn)

·二箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)二部分，測(cè)試產(chǎn)品置于提籃中, 沖擊時(shí)提籃將測(cè)試產(chǎn)品移進(jìn)高溫區(qū)或低溫區(qū)進(jìn)行衡擊,測(cè)試產(chǎn)品為動(dòng)態(tài)式。 

·二箱移動(dòng)式冷熱沖擊，安全的氣壓驅(qū)動(dòng)測(cè)試物上下來(lái)回沖擊。

·彩色觸控LCD中/英文微電腦溫度控制器。

·無(wú)紙式記錄功能，具實(shí)時(shí)顯示溫度沖擊試驗(yàn)變化之曲線圖及記錄雙重功能。

·冷熱沖擊機(jī)構(gòu)移動(dòng)時(shí)間在10秒內(nèi)；溫度恢復(fù)時(shí)間在5分鐘內(nèi)

·采用HFC環(huán)保冷媒，二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計(jì)，降溫快、效率高。

半導(dǎo)體高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

測(cè)試室溫度范圍：-40℃～+150 ℃ (水冷式)

低溫沖擊范圍：-10℃～-40 ℃  （任意可調(diào)）

高溫沖擊范圍：60℃～150 ℃  （任意可調(diào)）

溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min；轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s（吊籃移動(dòng)時(shí)間：3秒以內(nèi)）

內(nèi)壁材料：內(nèi)板材質(zhì)為SUS304不銹鋼

外壁材料：外材質(zhì)可選不銹鋼或者粉體烤漆處理。

控制面板：控制器顯示屏、故障指示燈、累時(shí)器、USB或R232界面、超溫保護(hù)設(shè)定器、總電源開(kāi)關(guān)

機(jī)械室：制冷機(jī)組、接排水裝置、排風(fēng)機(jī)。

配電控制柜：總電源漏電斷路器、控制器、配電板、散熱風(fēng)機(jī)、高低溫循環(huán)風(fēng)機(jī)電機(jī)